簡要描述:加速老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示,PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器(PT-100),解析度0.1℃,全自動安全保護裝置。
一、加速老化試驗箱主要技術(shù)參數(shù):
型號 | TY401B | TY401B(內(nèi)膽不銹鋼) | |
zui高工作溫度 | 200℃ | 300℃ | |
溫度波動度 | ≤1℃ | ≤1℃ | |
溫度均勻性 | ≤±1℃% | ≤±1℃% | |
換氣量 | 8-20次/h | 8-20次/h | |
功率 | 1.5KW | 4KW | |
工作室容積 | 500×500×500mm | 500×500×500mm | |
外形尺寸 | 880×750×1320mm | 920×790×1360mm |
二、加速老化試驗箱結(jié)構(gòu)及材料: